當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 電化學分析儀 > 掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)OSP370/470 OSP370模塊可快速地對非觸表面進行高精度測量。在不接觸樣品表面的情況下，它可以在10mm的高度范圍內(nèi)提供小于1微米高度分辨率的3D表面特寫影像。
電解液微滴掃描系統(tǒng)SDS370/470 電解液微滴系統(tǒng)可以限定液體與樣品的接觸面，從而對于液滴與樣品直接接觸面內(nèi)的電化學和腐蝕反應進行測量。這樣就可以在空間分辨率上提供電化學活性，并使其限定在樣品特定量化表面
掃描振動電極測試系統(tǒng)SVP370/470 掃描振動電極技術是一種非破壞性掃描，利用振動探針，測量電化學化學樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶可以實時測定和定量局部電化學反應以及腐蝕。
電化學顯微鏡系統(tǒng) SECM 是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學性質(zhì)。
地址：北京市昌平區(qū)西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室
郵箱：cici.ding@insearch-tech.com
傳真：86-10-81706682
微信客服
微信公眾號
版權所有Copyright © 2025 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 All Right Reserved 備案號：京ICP備16057128號-2 sitemap.xml 技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
歡迎訪問